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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorMorocho Román, Rodrigo Fernando-
dc.contributor.authorCueva Beltran, Irma Yesabeth-
dc.date.accessioned2016-06-29T17:42:29Z-
dc.date.available2016-06-29T17:42:29Z-
dc.date.issued2015-11-11-
dc.identifier.citationCueva Beltran I.Y.(2015) Diseño de un Plan para el Tratamiento de riesgos Tecnológicos utilizando la metodología NIST SP 800-30 (Trabajo de titulación) UTMACHALA,Unidad Académica de Ingeniería Civil, Machala, Ecuadores_ES
dc.identifier.otherTTUAIC_2015_ISIST_CD0024-
dc.identifier.urihttp://repositorio.utmachala.edu.ec/handle/48000/5198-
dc.description.abstractEn la actualidad las tecnologías de la información y comunicación mejor denominadas como TIC’s ocupan un gran espacio en todos los aspectos sociales y mayor aún en los niveles del mundo educativo, en donde han producido fuertes impactos, es necesario destacar que la mayoría de actividades que son ejecutadas por el ser humano son asistidas por computadoras o en algunos de los casos reemplazados por ellas debido a este motivo hacen apreciar su innegable influencia en nuestro medio. El concepto de TIC “tiene sus orígenes en las llamadas Tecnologías de la Información, mismo que surge como convergencia tecnológica de la electrónica, el software y las infraestructuras de telecomunicaciones”, este concepto apareció en los años 70 el cual se refería a las tecnologías para el procesamiento de la información; dicho proceso se realizaba solo en entornos locales por lo que la comunicación era una función poco valorada(1), ya en la actualidad las TIC’s han proporcionado grandes cambios que se convierten en nuevas formas de impartir conocimientos.es_ES
dc.format.extent11 p.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherMachalaes_ES
dc.rightsopenAccesses_ES
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/ec/es_ES
dc.subjectSOFTWAREes_ES
dc.subjectTECNOLOGÍASes_ES
dc.titleDiseño de un Plan para el Tratamiento de riesgos Tecnológicos utilizando la metodología NIST SP 800-30es_ES
dc.typeExamen Complexivoes_ES
Aparece en las colecciones: Examen complexivo Ingeniería de sistemas

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